- Obecnie brak na stanie
Sujeet K. Sinha
O książce (tylko w języku angielskim)
Charakteryzacja powierzchni materiałów inżynierskich wpływa na ich odporność na zarysowania/ścieranie/ślady mechaniczne, przyczepność/wytrzymałość powłok oraz mechanizm zużycia ściernego.
Scratching of Materials and Applications zawiera rozdziały poświęcone bezpośrednim zastosowaniom przemysłowym i obejmuje niektóre z ważnych prac prowadzonych w tej dziedzinie. Badania odporności materiałów na zarysowania rozwinęły się znacząco od początków skali Mohsa, służącej do klasyfikowania minerałów według ich względnej odporności na zarysowania. Test ten był stosowany w odniesieniu do metali, ceramiki, szkła, polimerów oraz powłok różnych typów i grubości.
Rozdziały zostały pogrupowane według rodzaju zastosowanych materiałów inżynierskich. Początkowe rozdziały dotyczą głównie polimerów masowych, po których następują rozdziały dotyczące różnych rodzajów powłok (od twardych, odpornych na zużycie, po powłoki diamentopodobne), a na końcu znajdują się rozdziały opisujące zastosowanie techniki zarysowań w odniesieniu do metali i ceramiki. Książka obejmuje więc szerokie spektrum materiałów inżynierskich, co czyni ją użyteczną dla inżynierów i badaczy.
Łączy teorię naukową z praktycznym zastosowaniem
Pokazuje przykłady zastosowań przemysłowych
Napisana przez ekspertów z dziedziny materiałoznawstwa, tribologii i mechaniki powierzchni
Rozdział 1. Analiza mechaniczna właściwości zarysowań powłokowanych polimerów (C. Gauthier i in.).
Rozdział 2. Analiza mechaniczna zarysowań metali i polimerów przy średnich i dużych odkształceniach (E. Felder, J.L. Bucaille).
Rozdział 3. Tarcie, uszkodzenia i zjawisko stick-slip w zarysowaniach polimerów (S.L. Zhang).
Rozdział 4. Mikrozarysowania i tarcie międzyfazowe włókien poliamidowych (J. Cayer-Barrioz i in.).
Rozdział 5. Metrologia do charakteryzowania odporności powłok polimerowych na zarysowania poprzez rozpraszanie optyczne (Li-Piin Sung i in.).
Rozdział 6. Zarysowania polimerów: mapowanie odkształceń i modelowanie zużycia (S.K. Sinha).
Rozdział 7. Przegląd możliwości ilościowego pomiaru przyczepności powłok metodą testu zarysowań (S.J. Bull, E.G-Berasetegui).
Rozdział 8. Charakteryzacja odporności na ślady mechaniczne/zarysowania powłok przy użyciu nanoindenter’a i skaningowego mikroskopu sondowego (Weidian Shen i in.).
Rozdział 9. Ocena wytrzymałości kohezji materiału powierzchniowego poprzez kontrolowane zarysowania (Yongsong Xie, H.M. Hawthorne).
Rozdział 10. Charakteryzacja mechaniczna nanostrukturalnych powłok TiB₂ przy użyciu technik mikrozarysowań (N. Panich, Y. Sun).
Rozdział 11. Identyfikacja uszkodzeń powłoki DLC metodą mikrozarysowań (A. Djamai i in.).
Rozdział 12. Korelacja między przyczepnością a zachowaniem powłok komercyjnych na bazie węgla w warunkach zużycia (K.H. Lau, K.Y. Li).
Rozdział 13. Badania przyczepności powłoki TiN na podłożach ze stali i stopu tytanu z użyciem wielomodowego testera zarysowań (J. Stallard i in.).
Rozdział 14. Badania tarcia i warstwy transferowej metodą zarysowania skośnego (P.L. Menezes).
Rozdział 15. Odporność na zarysowania austenitycznych stali nierdzewnych o wysokiej zawartości azotu (A.P. Tschiptschin i in.).
Rozdział 16. Ścieranie ceramiki inżynierskiej, kompozytu AlMgB₁₄-TiB₂ i innych materiałów twardych (S. Bahadur, A. Ahmed).
Układ scalony MC1496 - zbalansowany modulator/demodulator w obudowie PDIP14, ON Semiconductor
Brak towaru
Brak towaru
Brak towaru
Pakiet Li-Pol 5400 mAh, 7.4 V (2S) z wtykiem Dean T, 35C, wymiary: 135 x 43 x 21mm, waga: 257g. Tiger Power, RoHS
Brak towaru
Brak towaru
Brak towaru
Miernik prądu, napięcia, mocy oraz zużytej energii dla akumulatorów litowo-polimerowych, litowo-żelazowych i litowo-jonowych. Balanser dla akumulatorów o liczbie cel od 2 do 6. Złącza JST oraz Deans-T. Pololu 2176
Brak towaru
Brak towaru
Zintegrowany przyrząd laboratoryjny: dwukanałowy oscyloskop cyfrowy (14-bit, 105 MSPS), generator funkcyjny (arbitralny, 14-bit, 125 MSPS) oraz 16-kanałowy rejestrator-analizator stanów logicznych (100 MSPS). Dołączany do PC za pomocą USB.
Brak towaru
Zestaw uruchomieniowy z mikrokontrolerem STM32F107 i kontrolerem ethetnetowym ST802RT1A.
Brak towaru
Brak towaru
Brak towaru
Zintegrowany przyrząd laboratoryjny: dwukanałowy oscyloskop cyfrowy (14-bit, 105 MSPS), generator funkcyjny (arbitralny, 14-bit, 125 MSPS) oraz 16-kanałowy rejestrator-analizator stanów logicznych (100 MSPS). Dołączany do PC za pomocą USB. Oferta cenowa dla użytkowników akademickich (także studentów i uczniów).
Brak towaru
Brak towaru
16/32-bit ARM microcontrollers; 8 kB cache, up to 1 MB flash, Hi-Speed USB 2.0 device, SDRAM memory interface, NXP, TFBGA180, RoHS
Brak towaru
ARM Cortex-M3 MCU, 512 kB Flash, 96 kB SRAM, USB Device/Host/OTG, Ethernet, LCD, EMC, NXP, LQFP208, RoHS
Brak towaru
Sujeet K. Sinha