• Obecnie brak na stanie
Advances in Imaging and Electron Physics
search
  • Advances in Imaging and Electron Physics
ID: 170298
Peter Hawkes
Wycofany
 

Wysyłka od 50 zł gratis

darmowa wysyłka paczkomatem na terenie Polski dla wszystkich zamówień powyżej 50 PLN

 

Wysyłka tego samego dnia

Jeśli Twoja wpłata zostanie zaksięgowana na naszym koncie do godz. 11:00

 

14 dni na zwrot

Każdy konsument może zwrócić zakupiony towar w ciągu 14 dni bez zbędnych pytań

Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials-Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains.

Chapter 1 - Circulant matrix representation of feature masks and its applications (PARK and CHA);

Chapter 2 - Phase problem and reference beam diffraction (SHEN);

Chapter 3 - Fractal encoding (VITULANO)

Chapter 4 - Morphologically debiassed classifier fusion: A tomography-theoretic approach (WINDRIDGE)
170298

Produkty z tej samej kategorii (16)