- Obecnie brak na stanie
Jerzy Rutkowski
| Autor: Jerzy Rutkowski ISBN: 83-206-1484-8 Format: B5, 176 str. Wydawnictwo: WKiŁ |
| O książce |
| Wysokie wymagania stawiane masowo produkowanym i powszechnie stosowanym układom elektronicznym sprawiają, że kontrola jakości nabiera szczególnego znaczenia. Skutecznymi i zweryfikowanymi w praktyce metodami testowania analogowych układów elektronicznych są tzw. metody słownikowe, w których na etapie symulacji przedtestowych jest konstruowany sygnaturowy słownik uszkodzeń. Na etapie potestowym dane pomiarowe, po przetworzeniu, są porównywane z sygnaturami, co pozwala wykryć uszkodzenie i ewentualnie je zlokalizować. W książce opisano właśnie takie metody testowania. Wykorzystują one najnowsze narzędzia i techniki obliczeniowe, takie jak: sieci neuronowe, techniki ewolucyjne czy zbiory rozmyte i można je łatwo zaadaptować do diagnostyki układów analogowych innych niż elektroniczne. W monografii o charakterze podręcznika opisano podstawy techniki testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych oraz przegląd wszystkich praktycznie wykorzystywanych metod i technik stosowanych w diagnostyce opartej na słowniku. Na końcu dokonano oceny podsumowującej przegląd metod diagnostyki ze wskazaniem zalet i wad oraz oceną przydatności poszczególnych metod do wykrywania różnego rodzaju uszkodzeń. Odbiorcy: inżynierowie projektanci i użytkownicy analogowych układów scalonych, jak również studenci wydziałów elektroniki wyższych uczelni technicznych oraz słuchacze studiów doktoranckich w dziedzinie elektroniki. Książka wydana jako wspólne przedsięwzięcie Wydziału Automatyki, Elektroniki i Informatyki Politechniki Śląskiej i Wydawnictw Komunikacji i Łączności. Spis treści: Wykaz ważniejszych oznaczeń i skrótów Wiadomości wstępne Wprowadzenie do problematyki testowania analogowych ukladów elektronicznych 2.1. Systematyka testowania 2.2. Klasyfikacja oraz źródła uszkodzeń 2.3. Obszar tolerancji, obszar sprawności oraz inne definicje 2.4. Klasyfikacja metod wykorzystujących testowanie uszkodzeń 2.5. Podsumowanie Testowanie wykorzystujące symulację przedtestową 3.1. Ogólny opis podejścia słownikowego 3.2. Słownik sygnaturowy typu integer code – koncepcja ogólna 3.3. Optymalizacja doboru punktów testowych Wykorzystanie analizy wrażliwościowej do konstrukcji słownika sygnaturowego 4.1. Podstawy analizy wrażliwościowej 4.2. Odwzorowanie obszaru tolerancji z przestrzeni parametrów w przestrzeń pomiarów i wyznaczanie zbiorów niejednoznaczności 4.3. Optymalizacja punktów testowych i wyznaczanie sygnatur Neuronowy słownik uszkodzeń 5.1. Wykorzystanie sieci neuronowej do klasyfikacji uszkodzeń Wykorzystanie koncepcji zbiorów rozmytych do konstrukcji słownika uszkodzeń 6.1. Podstawy teorii zbiorów rozmytych 6.2. Rozmyty słownik uszkodzeń 6.3. Słownik rozmyty wykorzystujący klasyfikator neuronowy Wykorzystanie ewolucyjnych technik obliczeniowych w diagnostyce uszkodzeń analogowych 7.1. Wprowadzenie do problematyki ewolucyjnych technik obliczeniowych 7.2. Wykorzystanie algorytmu genetycznego do optymalizacji punktów testowych 7.3. Słownik uszkodzeń wykorzystujący programowanie genetyczne 7.4. Wykorzystanie strategii ewolucyjnej do optymalizacji testowania dynamicznego Słownik uszkodzeń wykorzystujący koncepcję niezmienności sekwencji wrażliwości Podsumowanie Literatura Skorowidz |
Zestaw z dwiema kamerami IMX219 o rozdzielczości 8 MP oraz modułem rozszerzeń dla Raspberry Pi, który pozwala na jednoczesne podłączenie dwóch kamer. ArduCAM B0350
Brak towaru
Moduł kamery 2 MPx OG02B10 współpracujący z Raspberry Pi. W zestawie adapter. ArduCAM B0348
Brak towaru
Moduł kamery z sensorem IMX219 o rozdzielczości 8 MP przeznaczony dla NVIDIA Jetson Nano/Xavier oraz Raspberry Pi Compute Module. ArduCAM B0342
Brak towaru
Moduł kamery 2 MPx z sensorem OV2311 współpracujący z NVIDIA Jetson Nano. Wyposażony w migawkę i mocowanie obiektywów M9. W zestawie akrylowa obudowa. ArduCAM B0220
Brak towaru
Zestaw zawierający moduł z dwiema kamerami z sensorem IMX219 o rozdzielczości 8 MP oraz moduł rozszerzeń dla NVIDIA Jetson Nano. ArduCAM B0217J8
Brak towaru
Moduł kamery z sensorem IMX219 o rozdzielczości 8 MP wyposażony w programowalny fokus, bez filtru IR. Przeznaczony dla NVIDIA Jetson Nano oraz Raspberry Pi CM. ArduCAM B0189
Brak towaru
Kamera z sensorem OV9282 przeznaczona do systemów DepthAI. Bez filtru IR. Jest elementem zamiennym do modułów DepthAI OAK-D. ArduCAM B0299
Brak towaru
Dwa moduły z oświetleniem LED w paśmie podczerwieni do kamery ArduCAM Raspberry Pi NOIR 5MP OV5647. Mogą być szeroko stosowane w fotografii noktowizyjnej dzikiej przyrody, rolnictwie itp. ArduCAM B0035LED
Brak towaru
Kamera o rozdzielczości 3 MPx z interfejsem USB. Wyposażona w sensor CMOS AR0331 z obiektywem o kącie widzenia 70° oraz dwa mikrofony. ArduCAM UB0237
Brak towaru
Kamera o rozdzielczości 2 MPx z interfejsem USB. Wyposażona w sensor CMOS IMX291 z obiektywem 86°, mikrofon, obudowę i statyw. ArduCAM B0354
Brak towaru
Kamera o rozdzielczości 5 MPx z interfejsem USB. Wyposażona w sensor CMOS OV5648 z szerokokątnym obiektywem o kącie widzenia 90°. ArduCAM UB0233
Brak towaru
Kamera o rozdzielczości 8 MPx z interfejsem USB. Wyposażona w sensor CMOS IMX219 z obiektywem o kącie widzenia 62° i przedłużaczem o długości 30 cm. ArduCAM B0320
Brak towaru
Kamera z interfejsem USB o rozdzielczości 16 MP. Wyposażona w sensor Sony CMOS IMX298 oraz obiektyw M12 o kącie widzenia 70°. ArduCAM B0246
Brak towaru
Kamera o rozdzielczości 2 MPx z interfejsem USB. Wyposażona w sensor CMOS IMX291 z ultraszerokim obiektywem 160°, dwa mikrofony, obudowę i statyw. ArduCAM UB020202
Brak towaru
Kamera o rozdzielczości 2 MPx z interfejsem USB. Wyposażona w sensor CMOS OV2710 z ruchomym filtrem IR i oświetleniem IR LED. ArduCam B0205
Brak towaru
Kamera o rozdzielczości 2 MPx z interfejsem USB. Wyposażona w sensor CMOS AR0230 z obiektywem o kącie widzenia 100°. ArduCAM B0203
Brak towaru
Jerzy Rutkowski