- Obecnie brak na stanie

Jerzy Rutkowski
Autor: Jerzy Rutkowski ISBN: 83-206-1484-8 Format: B5, 176 str. Wydawnictwo: WKiŁ |
O książce |
Wysokie wymagania stawiane masowo produkowanym i powszechnie stosowanym układom elektronicznym sprawiają, że kontrola jakości nabiera szczególnego znaczenia. Skutecznymi i zweryfikowanymi w praktyce metodami testowania analogowych układów elektronicznych są tzw. metody słownikowe, w których na etapie symulacji przedtestowych jest konstruowany sygnaturowy słownik uszkodzeń. Na etapie potestowym dane pomiarowe, po przetworzeniu, są porównywane z sygnaturami, co pozwala wykryć uszkodzenie i ewentualnie je zlokalizować. W książce opisano właśnie takie metody testowania. Wykorzystują one najnowsze narzędzia i techniki obliczeniowe, takie jak: sieci neuronowe, techniki ewolucyjne czy zbiory rozmyte i można je łatwo zaadaptować do diagnostyki układów analogowych innych niż elektroniczne. W monografii o charakterze podręcznika opisano podstawy techniki testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych oraz przegląd wszystkich praktycznie wykorzystywanych metod i technik stosowanych w diagnostyce opartej na słowniku. Na końcu dokonano oceny podsumowującej przegląd metod diagnostyki ze wskazaniem zalet i wad oraz oceną przydatności poszczególnych metod do wykrywania różnego rodzaju uszkodzeń. Odbiorcy: inżynierowie projektanci i użytkownicy analogowych układów scalonych, jak również studenci wydziałów elektroniki wyższych uczelni technicznych oraz słuchacze studiów doktoranckich w dziedzinie elektroniki. Książka wydana jako wspólne przedsięwzięcie Wydziału Automatyki, Elektroniki i Informatyki Politechniki Śląskiej i Wydawnictw Komunikacji i Łączności. Spis treści: Wykaz ważniejszych oznaczeń i skrótów Wiadomości wstępne Wprowadzenie do problematyki testowania analogowych ukladów elektronicznych 2.1. Systematyka testowania 2.2. Klasyfikacja oraz źródła uszkodzeń 2.3. Obszar tolerancji, obszar sprawności oraz inne definicje 2.4. Klasyfikacja metod wykorzystujących testowanie uszkodzeń 2.5. Podsumowanie Testowanie wykorzystujące symulację przedtestową 3.1. Ogólny opis podejścia słownikowego 3.2. Słownik sygnaturowy typu integer code – koncepcja ogólna 3.3. Optymalizacja doboru punktów testowych Wykorzystanie analizy wrażliwościowej do konstrukcji słownika sygnaturowego 4.1. Podstawy analizy wrażliwościowej 4.2. Odwzorowanie obszaru tolerancji z przestrzeni parametrów w przestrzeń pomiarów i wyznaczanie zbiorów niejednoznaczności 4.3. Optymalizacja punktów testowych i wyznaczanie sygnatur Neuronowy słownik uszkodzeń 5.1. Wykorzystanie sieci neuronowej do klasyfikacji uszkodzeń Wykorzystanie koncepcji zbiorów rozmytych do konstrukcji słownika uszkodzeń 6.1. Podstawy teorii zbiorów rozmytych 6.2. Rozmyty słownik uszkodzeń 6.3. Słownik rozmyty wykorzystujący klasyfikator neuronowy Wykorzystanie ewolucyjnych technik obliczeniowych w diagnostyce uszkodzeń analogowych 7.1. Wprowadzenie do problematyki ewolucyjnych technik obliczeniowych 7.2. Wykorzystanie algorytmu genetycznego do optymalizacji punktów testowych 7.3. Słownik uszkodzeń wykorzystujący programowanie genetyczne 7.4. Wykorzystanie strategii ewolucyjnej do optymalizacji testowania dynamicznego Słownik uszkodzeń wykorzystujący koncepcję niezmienności sekwencji wrażliwości Podsumowanie Literatura Skorowidz |
Komputer z procesorem Freescale i.MX6 Solo, 1GHz, rdzeń ARM Cortex-A9, RAM 512MB, Ethernet, HDMI, USB, RoHS
Brak towaru
Brak towaru
Orange Pi 3 2GB to minikomputer wyposażony w układ SoC Allwinner H6 (czterordzeniowy, częstotliwość do 1,8 GHz, architektura 64-biotowa, rdzeń ARM Cortex™-A53). Posiada 2GB pamięci RAM (LPDDR3), układ graficzny Mali T720, 8GB pamięci eMMC. Na płytce można uruchomić system Android 7.0 oraz Linux.
Brak towaru
Xilinx Virtex-5 LXT ML555 FPGA Development Kit for PCI Express, PCI-X, and PCI Interfaces
Brak towaru
Zmywacz do etykiet 150ml firmy MICRO CHIP ELECTRONIC
Brak towaru
Czterordzeniowy komputer bazujący na NVIDIA® Tegra® K1 SOC wspierający technologię CUDA®, RoHS
Brak towaru
Brak towaru
Moduł pozwala na wykorzystanie możliwości czujnika jasności typu TSL2561. Komunikacja z czujnikiem odbywa się za pośrednictwem magistrali I2C. Adafruit 439
Brak towaru
Brak towaru
Konektory zasilania PolyMax 3,5 mm Gold, 10 par (20 szt.) (HK68)
Brak towaru
Brak towaru
Brak towaru
Brak towaru
Lupa stojąca składana, średnica soczewki 110mm, 2.5-krotne powiększenie. Podświetlenie trzema diodami LED zasilanymi z trzech baterii AAA
Brak towaru
Kabel z wtykami USB typ A oraz micro-USB typ B, kabel o długości 1m. Kabel ma czarny nylonowy oplot. Przewód nadaje się jedynie do ładowania urządzeń, nie ma linii do przesyłania danych
Brak towaru
Brak towaru
Jerzy Rutkowski