- Obecnie brak na stanie
Jerzy Rutkowski
| Autor: Jerzy Rutkowski ISBN: 83-206-1484-8 Format: B5, 176 str. Wydawnictwo: WKiŁ |
| O książce |
| Wysokie wymagania stawiane masowo produkowanym i powszechnie stosowanym układom elektronicznym sprawiają, że kontrola jakości nabiera szczególnego znaczenia. Skutecznymi i zweryfikowanymi w praktyce metodami testowania analogowych układów elektronicznych są tzw. metody słownikowe, w których na etapie symulacji przedtestowych jest konstruowany sygnaturowy słownik uszkodzeń. Na etapie potestowym dane pomiarowe, po przetworzeniu, są porównywane z sygnaturami, co pozwala wykryć uszkodzenie i ewentualnie je zlokalizować. W książce opisano właśnie takie metody testowania. Wykorzystują one najnowsze narzędzia i techniki obliczeniowe, takie jak: sieci neuronowe, techniki ewolucyjne czy zbiory rozmyte i można je łatwo zaadaptować do diagnostyki układów analogowych innych niż elektroniczne. W monografii o charakterze podręcznika opisano podstawy techniki testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych oraz przegląd wszystkich praktycznie wykorzystywanych metod i technik stosowanych w diagnostyce opartej na słowniku. Na końcu dokonano oceny podsumowującej przegląd metod diagnostyki ze wskazaniem zalet i wad oraz oceną przydatności poszczególnych metod do wykrywania różnego rodzaju uszkodzeń. Odbiorcy: inżynierowie projektanci i użytkownicy analogowych układów scalonych, jak również studenci wydziałów elektroniki wyższych uczelni technicznych oraz słuchacze studiów doktoranckich w dziedzinie elektroniki. Książka wydana jako wspólne przedsięwzięcie Wydziału Automatyki, Elektroniki i Informatyki Politechniki Śląskiej i Wydawnictw Komunikacji i Łączności. Spis treści: Wykaz ważniejszych oznaczeń i skrótów Wiadomości wstępne Wprowadzenie do problematyki testowania analogowych ukladów elektronicznych 2.1. Systematyka testowania 2.2. Klasyfikacja oraz źródła uszkodzeń 2.3. Obszar tolerancji, obszar sprawności oraz inne definicje 2.4. Klasyfikacja metod wykorzystujących testowanie uszkodzeń 2.5. Podsumowanie Testowanie wykorzystujące symulację przedtestową 3.1. Ogólny opis podejścia słownikowego 3.2. Słownik sygnaturowy typu integer code – koncepcja ogólna 3.3. Optymalizacja doboru punktów testowych Wykorzystanie analizy wrażliwościowej do konstrukcji słownika sygnaturowego 4.1. Podstawy analizy wrażliwościowej 4.2. Odwzorowanie obszaru tolerancji z przestrzeni parametrów w przestrzeń pomiarów i wyznaczanie zbiorów niejednoznaczności 4.3. Optymalizacja punktów testowych i wyznaczanie sygnatur Neuronowy słownik uszkodzeń 5.1. Wykorzystanie sieci neuronowej do klasyfikacji uszkodzeń Wykorzystanie koncepcji zbiorów rozmytych do konstrukcji słownika uszkodzeń 6.1. Podstawy teorii zbiorów rozmytych 6.2. Rozmyty słownik uszkodzeń 6.3. Słownik rozmyty wykorzystujący klasyfikator neuronowy Wykorzystanie ewolucyjnych technik obliczeniowych w diagnostyce uszkodzeń analogowych 7.1. Wprowadzenie do problematyki ewolucyjnych technik obliczeniowych 7.2. Wykorzystanie algorytmu genetycznego do optymalizacji punktów testowych 7.3. Słownik uszkodzeń wykorzystujący programowanie genetyczne 7.4. Wykorzystanie strategii ewolucyjnej do optymalizacji testowania dynamicznego Słownik uszkodzeń wykorzystujący koncepcję niezmienności sekwencji wrażliwości Podsumowanie Literatura Skorowidz |
Wyświetlacz LCD 2x8, 58x30mm, FSTN NEGATIVE, LED backlight (white), enhanced temperature range, RoHS
Brak towaru
Moduł z czarno-białym wyświetlaczem e-Paper o przekątnej 9,7" i rozdzielczości 1200x825 px. Wyposażony w interfejs HDMI. Waveshare 9.7inch HDMI e-Paper
Brak towaru
Brak towaru
Brak towaru
Brak towaru
Unlimited C compiler and assembler toolset for 8051 core-based microcontrollers with USB Dongle-based license
Brak towaru
Moduł zegara czasu rzeczywistego, może znaleźć zastosowanie w wielu projektach zegarów lub urządzeń służących do sterowania czasowego. Adafruit 264
Brak towaru
Zestaw do budowy obwodów i ich testowania przy użyciu Analog Discovery 2 i LabVIEW. Digilent 471-018
Brak towaru
Brak towaru
Stanisław Osowski, Andrzej Cichocki, Krzysztof Siwek
Brak towaru
Brak towaru
Brak towaru
HK Turnigy TGY-5521MDHV High Voltage Metal Gear Digital Servo 24kg / 0.11sec / 60g (24577)
Brak towaru
Brak towaru
Grot lutowniczy 3,2D śrubokręt płaski o średnicy 5,5mm, do stacji lutowniczej WEP 926
Brak towaru
Brak towaru
Jerzy Rutkowski