- Obecnie brak na stanie

Jerzy Rutkowski
Autor: Jerzy Rutkowski ISBN: 83-206-1484-8 Format: B5, 176 str. Wydawnictwo: WKiŁ |
O książce |
Wysokie wymagania stawiane masowo produkowanym i powszechnie stosowanym układom elektronicznym sprawiają, że kontrola jakości nabiera szczególnego znaczenia. Skutecznymi i zweryfikowanymi w praktyce metodami testowania analogowych układów elektronicznych są tzw. metody słownikowe, w których na etapie symulacji przedtestowych jest konstruowany sygnaturowy słownik uszkodzeń. Na etapie potestowym dane pomiarowe, po przetworzeniu, są porównywane z sygnaturami, co pozwala wykryć uszkodzenie i ewentualnie je zlokalizować. W książce opisano właśnie takie metody testowania. Wykorzystują one najnowsze narzędzia i techniki obliczeniowe, takie jak: sieci neuronowe, techniki ewolucyjne czy zbiory rozmyte i można je łatwo zaadaptować do diagnostyki układów analogowych innych niż elektroniczne. W monografii o charakterze podręcznika opisano podstawy techniki testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych oraz przegląd wszystkich praktycznie wykorzystywanych metod i technik stosowanych w diagnostyce opartej na słowniku. Na końcu dokonano oceny podsumowującej przegląd metod diagnostyki ze wskazaniem zalet i wad oraz oceną przydatności poszczególnych metod do wykrywania różnego rodzaju uszkodzeń. Odbiorcy: inżynierowie projektanci i użytkownicy analogowych układów scalonych, jak również studenci wydziałów elektroniki wyższych uczelni technicznych oraz słuchacze studiów doktoranckich w dziedzinie elektroniki. Książka wydana jako wspólne przedsięwzięcie Wydziału Automatyki, Elektroniki i Informatyki Politechniki Śląskiej i Wydawnictw Komunikacji i Łączności. Spis treści: Wykaz ważniejszych oznaczeń i skrótów Wiadomości wstępne Wprowadzenie do problematyki testowania analogowych ukladów elektronicznych 2.1. Systematyka testowania 2.2. Klasyfikacja oraz źródła uszkodzeń 2.3. Obszar tolerancji, obszar sprawności oraz inne definicje 2.4. Klasyfikacja metod wykorzystujących testowanie uszkodzeń 2.5. Podsumowanie Testowanie wykorzystujące symulację przedtestową 3.1. Ogólny opis podejścia słownikowego 3.2. Słownik sygnaturowy typu integer code – koncepcja ogólna 3.3. Optymalizacja doboru punktów testowych Wykorzystanie analizy wrażliwościowej do konstrukcji słownika sygnaturowego 4.1. Podstawy analizy wrażliwościowej 4.2. Odwzorowanie obszaru tolerancji z przestrzeni parametrów w przestrzeń pomiarów i wyznaczanie zbiorów niejednoznaczności 4.3. Optymalizacja punktów testowych i wyznaczanie sygnatur Neuronowy słownik uszkodzeń 5.1. Wykorzystanie sieci neuronowej do klasyfikacji uszkodzeń Wykorzystanie koncepcji zbiorów rozmytych do konstrukcji słownika uszkodzeń 6.1. Podstawy teorii zbiorów rozmytych 6.2. Rozmyty słownik uszkodzeń 6.3. Słownik rozmyty wykorzystujący klasyfikator neuronowy Wykorzystanie ewolucyjnych technik obliczeniowych w diagnostyce uszkodzeń analogowych 7.1. Wprowadzenie do problematyki ewolucyjnych technik obliczeniowych 7.2. Wykorzystanie algorytmu genetycznego do optymalizacji punktów testowych 7.3. Słownik uszkodzeń wykorzystujący programowanie genetyczne 7.4. Wykorzystanie strategii ewolucyjnej do optymalizacji testowania dynamicznego Słownik uszkodzeń wykorzystujący koncepcję niezmienności sekwencji wrażliwości Podsumowanie Literatura Skorowidz |
Brak towaru
Brak towaru
Brak towaru
Wentylator Sunon EE40100S2 to osiowy wentylator prądu stałego o wymiarach 40x40x10 mm, zasilany napięciem 5 V DC. Charakteryzuje się prędkością obrotową 6100 RPM, przepływem powietrza 11,99 m³/h oraz poziomem hałasu 23 dBA. Posiada łożysko ślizgowe i pobiera moc 0,8 W.
Brak towaru
Zielona, aluminiowa obudowa do komputera Raspberry Pi 4 model B. Została wyposażona w otwory montażowe standardu VESA 75
Brak towaru
EPSTICK PROGRAMATOR ISP/ICP DLA MIKROKONTROLERÓW ST7 - ZESTAW DO SAMODZIELNEGO MONTAŻU
Brak towaru
Brak towaru
4,3-calowy ekran pojemnościowy o rozdzielczości 480 x 272 pikseli, idealny do aplikacji wymagających dotyku. Posiada interfejs I2C, niskie zużycie energii i szeroki zakres temperatur pracy. NXP
Brak towaru
Brak towaru
Moduł MICRO SD, dołączany za pomocą złącz szpilkowych, napięcie zasilania 3.3V, RoHS
Brak towaru
Igła dozownicza zagięta do precyzyjnej aplikacji kleju, fluxu o średnicy wewnętrznej 0,26mm i średnicy zewnętrznej 0,5144mm
Brak towaru
Brak towaru
Brak towaru
Cypress PSoC 4 CY8CKIT-049-42XX to płytka startowa z wbudowanym programatorem dla mikrokontrolerów PSoC 4 CY8C4245AXI (ARM Cortex-M0).
Brak towaru
Programator AVR Pro v2 jest w pełni zgodny z układem AVRISP-MKII. Dzięki niemu można programować mikrokontrolery z rodziny AVR: ATtiny, ATmega oraz ATxmega. Wyposażony w dwa złącza ISP/PDI/TPI 2x3 pinowe oraz KANDA 2x5 pinowe
Brak towaru
Brak towaru
Jerzy Rutkowski