• Obecnie brak na stanie
Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych
search
  • Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych
ID: 35449

Jerzy Rutkowski

Wycofany
 

Wysyłka od 50 zł gratis

darmowa wysyłka paczkomatem na terenie Polski dla wszystkich zamówień powyżej 50 PLN

 

Wysyłka tego samego dnia

Jeśli Twoja wpłata zostanie zaksięgowana na naszym koncie do godz. 11:00

 

14 dni na zwrot

Każdy konsument może zwrócić zakupiony towar w ciągu 14 dni bez zbędnych pytań

Autor: Jerzy Rutkowski

ISBN: 83-206-1484-8
Format: B5, 176 str.
Wydawnictwo: WKiŁ
O książce
Wysokie wymagania stawiane masowo produkowanym i powszechnie stosowanym układom elektronicznym sprawiają, że kontrola jakości nabiera szczególnego znaczenia. Skutecznymi i zweryfikowanymi w praktyce metodami testowania analogowych układów elektronicznych są tzw. metody słownikowe, w których na etapie symulacji przedtestowych jest konstruowany sygnaturowy słownik uszkodzeń. Na etapie potestowym dane pomiarowe, po przetworzeniu, są porównywane z sygnaturami, co pozwala wykryć uszkodzenie i ewentualnie je zlokalizować. W książce opisano właśnie takie metody testowania. Wykorzystują one najnowsze narzędzia i techniki obliczeniowe, takie jak: sieci neuronowe, techniki ewolucyjne czy zbiory rozmyte i można je łatwo zaadaptować do diagnostyki układów analogowych innych niż elektroniczne. W monografii o charakterze podręcznika opisano podstawy techniki testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych oraz przegląd wszystkich praktycznie wykorzystywanych metod i technik stosowanych w diagnostyce opartej na słowniku. Na końcu dokonano oceny podsumowującej przegląd metod diagnostyki ze wskazaniem zalet i wad oraz oceną przydatności poszczególnych metod do wykrywania różnego rodzaju uszkodzeń.
Odbiorcy: inżynierowie projektanci i użytkownicy analogowych układów scalonych, jak również studenci wydziałów elektroniki wyższych uczelni technicznych oraz słuchacze studiów doktoranckich w dziedzinie elektroniki.
Książka wydana jako wspólne przedsięwzięcie Wydziału Automatyki, Elektroniki i Informatyki Politechniki Śląskiej i Wydawnictw Komunikacji i Łączności.

Spis treści:
Wykaz ważniejszych oznaczeń i skrótów
Wiadomości wstępne
Wprowadzenie do problematyki testowania analogowych ukladów elektronicznych
2.1. Systematyka testowania
2.2. Klasyfikacja oraz źródła uszkodzeń
2.3. Obszar tolerancji, obszar sprawności oraz inne definicje
2.4. Klasyfikacja metod wykorzystujących testowanie uszkodzeń
2.5. Podsumowanie
Testowanie wykorzystujące symulację przedtestową
3.1. Ogólny opis podejścia słownikowego
3.2. Słownik sygnaturowy typu integer code – koncepcja ogólna
3.3. Optymalizacja doboru punktów testowych
Wykorzystanie analizy wrażliwościowej do konstrukcji słownika sygnaturowego
4.1. Podstawy analizy wrażliwościowej
4.2. Odwzorowanie obszaru tolerancji z przestrzeni parametrów w przestrzeń pomiarów i wyznaczanie zbiorów niejednoznaczności
4.3. Optymalizacja punktów testowych i wyznaczanie sygnatur
Neuronowy słownik uszkodzeń
5.1. Wykorzystanie sieci neuronowej do klasyfikacji uszkodzeń
Wykorzystanie koncepcji zbiorów rozmytych do konstrukcji słownika uszkodzeń
6.1. Podstawy teorii zbiorów rozmytych
6.2. Rozmyty słownik uszkodzeń
6.3. Słownik rozmyty wykorzystujący klasyfikator neuronowy
Wykorzystanie ewolucyjnych technik obliczeniowych w diagnostyce uszkodzeń analogowych
7.1. Wprowadzenie do problematyki ewolucyjnych technik obliczeniowych
7.2. Wykorzystanie algorytmu genetycznego do optymalizacji punktów testowych
7.3. Słownik uszkodzeń wykorzystujący programowanie genetyczne
7.4. Wykorzystanie strategii ewolucyjnej do optymalizacji testowania dynamicznego
Słownik uszkodzeń wykorzystujący koncepcję niezmienności sekwencji wrażliwości
Podsumowanie
Literatura
Skorowidz

35449

Produkty z tej samej kategorii (16)