- Obecnie brak na stanie
Produkty
Kategorie
- Kategorie główne
-
- ARDUINO
- AUTOMATYKA
- CYBERBEZPIECZEŃSTWO
- DRUK 3D
- EDUKACJA
- ELEKTRONIKA
- Akcesoria PC
- Chłodzenie
- Czujniki
- Czujniki 6DOF/9DOF/10DOF
- Czujniki ciśnienia
- Czujniki gazów
- Czujniki Halla
- Czujniki jakości cieczy
- Czujniki jakości powietrza
- Czujniki magnetyczne (kompasy)
- Czujniki medyczne
- Czujniki nacisku
- Czujniki odbiciowe
- Czujniki odległości
- Czujniki PH
- Czujniki podczerwieni
- Czujniki poziomu cieczy
- Czujniki położenia
- Czujniki prądu
- Czujniki przepływu
- Czujniki przyspieszenia (akcelerometry)
- Czujniki ruchu
- Czujniki światła i koloru
- Czujniki temperatury
- Czujniki wibracji
- Czujniki wilgotności gleby
- Czujniki wilgotności powietrza
- Żyroskopy
- Drukarki
- Elementy pasywne
- Gadżety
- GPS
- Inteligentne ubrania
- Kamery i akcesoria
- Karty pamięci i inne nośniki danych
- Komunikacja
- LED - diody, wyświetlacze, paski
- Materiały przewodzące
- Moduły elektroniczne
- Akcesoria JTAG
- Audio
- Czytniki kart pamięci
- Czytniki kodów paskowych
- Czytniki linii papilarnych
- Ekspandery linii I/O
- Enkodery
- Generatory DDS/PLL
- Klawiatury, przyciski
- Konwertery CAN
- Konwertery napięć
- Konwertery RS485
- Konwertery USB - I2C / 1-Wire / SPI
- Konwertery USB - UART / RS232
- Moduły HMI
- Moduły pamięci
- Moduły RTC
- Moduły z wyjściami mocy
- Moduły zasilające
- Obraz i wideo
- Odbiorniki podczerwieni TSOP
- Potencjometry cyfrowe
- Przetworniki A/C i C/A
- Rejestratory danych (data logger)
- Sterowniki LED
- Sterowniki serw
- Sterowniki silników
- Półprzewodniki
- Button
- Czujniki
- Czujniki dotykowe (Touch)
- Diody
- Energy harvesting
- Generatory PLL
- Inne
- Konwertery logiczne
- Liczniki energii
- Mikrokontrolery
- Mikroprocesory DSP
- Mostki prostownicze
- Optotriaki i transoptory
- Pamięci
- Przetworniki a/c (ADC)
- Przetworniki c/a (DAC)
- Sterowniki i mostki IGBT
- Sterowniki LED
- Sterowniki silników
- Syntezery DDS
- Timery
- Tranzystory
- Układy analogowe
- Układy audio
- Układy cyfrowe
- Układy interfejsowe
- Układy programowalne
- Układy RF
- Układy RTC
- Układy SoC
- Układy zasilające
- Układy zerujące
- Zabezpieczenia ESD
- Przekaźniki
- Przetworniki dźwięku
- Przewody
- Przewody świecące i akcesoria
- Przełączniki i przyciski
- Płytki prototypowe
- Wyświetlacze
- Złącza
- Adaptery USB PD do laptopów
- Gniazda do kart pamięci
- Gniazdka RJ-45
- Igły testowe (pogo pin)
- Konektory
- Podstawki
- Szybkozłącza
- Zworki
- Złącza ARK (Terminal Block)
- Złącza FFC / FPC ZIF
- Złącza goldpin
- Złącza IDC
- Złącza inne
- Złącza Jack
- Złącza JST
- Złącza koncentryczne (RF)
- Złącza krokodylkowe
- Złącza obrotowe
- Złącza szufladowe D-Sub
- Złącza USB
- Złącza zasilania DC
- Akcesoria PC
- KSIĄŻKI
- MECHANIKA
- MINIKOMPUTERY (SBC)
- PRZYRZĄDY POMIAROWE
- RASPBERRY PI
- Akcesoria do Raspberry Pi
- Chłodzenie do Raspberry Pi
- Kamery do Raspberry Pi
- Karty pamięci do Raspberry Pi
- Moduły rozszerzające do Raspberry Pi
- Obudowy do Raspberry Pi
- Prototypowanie Raspberry Pi
- Przewody audio-wideo do Raspberry Pi
- Raspberry Pi 3 model A+
- Raspberry Pi 3 model B
- Raspberry Pi 3 model B+
- Raspberry Pi 4 model B
- Raspberry Pi 400
- Raspberry Pi 5
- Raspberry Pi Compute Module
- Raspberry Pi model A/B+/2
- Raspberry Pi Pico
- Raspberry Pi Zero
- Raspberry Pi Zero 2 W
- Wyświetlacze do Raspberry Pi
- Zasilanie do Raspberry Pi
- WARSZTAT
- Chemia
- Elektronarzędzia
- Igły dozownicze
- Imadła
- Kleje i klejarki
- Listwy zasilające
- Lutowanie
- Akcesoria do lutowania
- Akcesoria SMD
- Chemia lutownicza
- Cyna
- Gąbki i czyściki
- Groty do lutownic
- Grzałki oraz kolby lutownicze
- Kulki BGA
- Laminaty
- Lutownice kolbowe
- Lutownice przenośne
- Maty i akcesoria antystatyczne (ESD)
- Myjki ultradźwiękowe
- Odsysacze do usuwania cyny
- Opalarki
- Pasty lutownicze
- Pędzle i szczotki ESD
- Plecionki do usuwania cyny
- Podgrzewacze
- Podstawki pod lutownice
- Silikonowe maty do lutowania
- Stacje lutownicze
- Tygle lutownicze
- Uchwyty, lupy
- Mikroskopy
- Miniwiertarki, miniszlifierki
- Narzędzia
- Noże i nożyczki
- Okulary ochronne
- Organizery
- Pęsety
- Plotery i Frezarki CNC
- Rurki termokurczliwe
- Ściągacze izolacji
- Taśmy
- Zaciskarki
- Zasilacze laboratoryjne
- Chemia
- WYCOFANE Z OFERTY
- WYPRZEDAŻ
- ZASILANIE
- ZESTAWY URUCHOMIENIOWE
- Atmel SAM
- Atmel Xplain
- AVR
- DFRobot FireBeetle
- ESP32
- ESP8266
- Feather / Thing Plus
- Freedom (Kinetis)
- Google Coral
- Inne zestawy uruchomieniowe
- M5Stack
- micro:bit
- Moduły peryferyjne
- Nordic nRF
- OPROGRAMOWANIE
- Particle Photon
- PIC
- Programatory Segger
- Programatory uniwersalne
- Raspberry Pi RP2040
- RFID
- RISC-V
- Seeed Studio LinkIt
- Sparkfun MicroMod
- STM32
- STM32 Discovery
- STM32 MP1
- STM32 Nucleo
- STM8
- Teensy
- WRTNode
- XIAO/Qt PY
- Atmel SAM
- ZESTAWY URUCHOMIENIOWE FPGA
- ARDUINO
Nowości
Nowości
Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych
Jerzy Rutkowski
Wysyłka gratis
darmowa wysyłka na terenie Polski dla wszystkich zamówień powyżej 500 PLN
Wysyłka tego samego dnia
Jeśli Twoja wpłata zostanie zaksięgowana na naszym koncie do godz. 11:00
14 dni na zwrot
Każdy konsument może zwrócić zakupiony towar w ciągu 14 dni bez zbędnych pytań
Autor: Jerzy Rutkowski ISBN: 83-206-1484-8 Format: B5, 176 str. Wydawnictwo: WKiŁ |
O książce |
Wysokie wymagania stawiane masowo produkowanym i powszechnie stosowanym układom elektronicznym sprawiają, że kontrola jakości nabiera szczególnego znaczenia. Skutecznymi i zweryfikowanymi w praktyce metodami testowania analogowych układów elektronicznych są tzw. metody słownikowe, w których na etapie symulacji przedtestowych jest konstruowany sygnaturowy słownik uszkodzeń. Na etapie potestowym dane pomiarowe, po przetworzeniu, są porównywane z sygnaturami, co pozwala wykryć uszkodzenie i ewentualnie je zlokalizować. W książce opisano właśnie takie metody testowania. Wykorzystują one najnowsze narzędzia i techniki obliczeniowe, takie jak: sieci neuronowe, techniki ewolucyjne czy zbiory rozmyte i można je łatwo zaadaptować do diagnostyki układów analogowych innych niż elektroniczne. W monografii o charakterze podręcznika opisano podstawy techniki testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych oraz przegląd wszystkich praktycznie wykorzystywanych metod i technik stosowanych w diagnostyce opartej na słowniku. Na końcu dokonano oceny podsumowującej przegląd metod diagnostyki ze wskazaniem zalet i wad oraz oceną przydatności poszczególnych metod do wykrywania różnego rodzaju uszkodzeń. Odbiorcy: inżynierowie projektanci i użytkownicy analogowych układów scalonych, jak również studenci wydziałów elektroniki wyższych uczelni technicznych oraz słuchacze studiów doktoranckich w dziedzinie elektroniki. Książka wydana jako wspólne przedsięwzięcie Wydziału Automatyki, Elektroniki i Informatyki Politechniki Śląskiej i Wydawnictw Komunikacji i Łączności. Spis treści: Wykaz ważniejszych oznaczeń i skrótów Wiadomości wstępne Wprowadzenie do problematyki testowania analogowych ukladów elektronicznych 2.1. Systematyka testowania 2.2. Klasyfikacja oraz źródła uszkodzeń 2.3. Obszar tolerancji, obszar sprawności oraz inne definicje 2.4. Klasyfikacja metod wykorzystujących testowanie uszkodzeń 2.5. Podsumowanie Testowanie wykorzystujące symulację przedtestową 3.1. Ogólny opis podejścia słownikowego 3.2. Słownik sygnaturowy typu integer code – koncepcja ogólna 3.3. Optymalizacja doboru punktów testowych Wykorzystanie analizy wrażliwościowej do konstrukcji słownika sygnaturowego 4.1. Podstawy analizy wrażliwościowej 4.2. Odwzorowanie obszaru tolerancji z przestrzeni parametrów w przestrzeń pomiarów i wyznaczanie zbiorów niejednoznaczności 4.3. Optymalizacja punktów testowych i wyznaczanie sygnatur Neuronowy słownik uszkodzeń 5.1. Wykorzystanie sieci neuronowej do klasyfikacji uszkodzeń Wykorzystanie koncepcji zbiorów rozmytych do konstrukcji słownika uszkodzeń 6.1. Podstawy teorii zbiorów rozmytych 6.2. Rozmyty słownik uszkodzeń 6.3. Słownik rozmyty wykorzystujący klasyfikator neuronowy Wykorzystanie ewolucyjnych technik obliczeniowych w diagnostyce uszkodzeń analogowych 7.1. Wprowadzenie do problematyki ewolucyjnych technik obliczeniowych 7.2. Wykorzystanie algorytmu genetycznego do optymalizacji punktów testowych 7.3. Słownik uszkodzeń wykorzystujący programowanie genetyczne 7.4. Wykorzystanie strategii ewolucyjnej do optymalizacji testowania dynamicznego Słownik uszkodzeń wykorzystujący koncepcję niezmienności sekwencji wrażliwości Podsumowanie Literatura Skorowidz |
Produkty z tej samej kategorii (16)
Obudowa do komputera Raspberry Pi 3, Raspberry Pi 2 model B oraz Raspberry Pi 1 model B+ biała. Wykonana z tworzywa sztucznego, składa się z dwóch cześci
Brak towaru
Brak towaru
Oprogramowanie LabVIEW 2014 w wersji Home Bundle. LabView służy do wizualnego programowania, projektowania graficznych interfejsów użytkownika, umożliwia także tworzenie interakcji z narzędziami sprzętowymi. 6002-549-000
Brak towaru
Programowalny moduł BT4.0 ze złączem UART 2x4 pin 2.54 mm
Brak towaru
Silica Xynergy Board - STM32F417 ARM Cortex-M4 MCU and XC6SLX16 Spartan 6 FPGA Development Kit
Brak towaru
Brak towaru
Brak towaru
Brak towaru
Brak towaru
Zmontowany tester serwomechanizmów modelarskich. AVT1632 C
Brak towaru
Brak towaru
Wyświetlacz LCD 2x16, 80x36mm, FSTN, LED backlight (amber), enhanced temperature range, pobór prądu z podświetleniem 20mA, RoHS
Brak towaru
Karta SD Kingston CANVAS React 32GB Class 10. SDR/32GB
Brak towaru
Akumulator: Li-Ion; 3,7V; 400mAh; Wyprowadzenia: przewody ze złączem 2-pinowym JST-PH; 50,8 mm x 33,5 x 5,9 mm. PRT-13851
Brak towaru
Brak towaru
Listwa zaciskowa żeńska, 2-pinowa. Raster 3,81 mm. Wysokość 11,1 mm. 15EDGK-3.81-2P
Brak towaru